Avio 550 Max ICP-OES应用MSF法来解决冶金样品中的杂质干扰问题

电感耦合等离子体光谱法（ICP-OES）能够处理高含量的溶解固体，而无需引入特殊的样品组分或使用基质分离方案，是检测冶金基质中微量元素的常用技术。许多元素会产生大量的放射线，增加了光谱干扰的几率，这对ICP-OES分析冶金基质中的微量金属提出了挑战，即如何避免光谱干扰。

本文演示了如何在分析冶金样品时使用多组分光谱拟合（MSF）和Avio^® 550 Max全谱全读ICP-OES来解决光谱干扰。